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卷绕镀膜光谱透反射比在线测量系统Filmonitor6320

本系统安装于真空卷绕镀膜机内,相当于安装在生产线内的全自动分光光度计,用于膜层或镀膜成品的透反射光谱性能监测,配置灵活,可选择多种方式测量,采用横向多点或纵向不同位置进行透反射光谱测量,配置参考光路,稳定性极佳。便于工艺人员监测镀膜情况,提早调整工艺参数,节省成本。

测量对象
  • 薄膜材料
仪器特点
  • 快速实时光谱测量,监控靶室内膜层变化;
  • 具有特殊设计的参考光路,长时间运行无漂移;
  • 可以选择测量基材、靶室内过程及成品测量;
  • 自主开发软件系统,自行设定变化趋势报警区间。
仪器功能
  • 光谱透射比、反射比 、颜色参数  Yxy、L*、a*、b*、色差ΔE
技术参数
项目参数
测量几何条件8°/8°
光谱范围380~1000nm
波长间隔1nm
探头间隙3~23mm
波长准确性优于0.3nm
波长重复性优于0.1nm
测量速度每点每次测量速度≤500ms,每点测量间隔时间不少于1秒
短时间稳定性同一玻璃同一点经30次连续测量,L、a、b*的波动<0.1RMS
长时间漂移重启仪器或置换光源后,测量同一片玻璃同一点,L、a、b*测值波动<0.1RMS
注:厂家有权修改技术参数,请以实际产品和所附说明书为准。