本系统安装于真空卷绕镀膜机内，相当于安装在生产线内的全自动分光光度计，用于膜层或镀膜成品的透反射光谱性能监测，配置灵活，可选择多种方式测量，采用横向多点或纵向不同位置进行透反射光谱测量，配置参考光路，稳定性极佳。便于工艺人员监测镀膜情况，提早调整工艺参数，节省成本。
测量对象
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- 薄膜材料
仪器特点
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- 快速实时光谱测量，监控膜层变化；
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- 具有特殊设计的参考光路，长时间运行无漂移；
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- 可以选择测量基材、靶室内过程及成品测量；
技术参数
技术指标
技术指标
1.测量对象：薄膜材料；
2.测量几何条件：8°/8° ；
3.波长范围：380~1000nm；
4.波长准确性：≤0.3nm；
5.波长间隔：1nm；
6.波长重复性：0.1nm ；
7.探头间隙：3~23mm；
8.测量速度：每点每次测量速度≤500ms，每点测量间隔时间不少于1s；
9.测量重复性：重启仪器或置换光源后，测同一样品同一点，L*a*b*的波动分别＜0.3RMS；
10.测量稳定性：同一样品同一点经30次连续测量，L*a*b*的波动分别＜0.3RMS
