本系统安装于真空卷绕镀膜机内，相当于安装在生产线内的全自动分光光度计，用于膜层或镀膜成品的透反射光谱性能监测，配置灵活，可选择多种方式测量，采用横向多点或纵向不同位置进行透反射光谱测量，配置参考光路，稳定性极佳。便于工艺人员监测镀膜情况，提早调整工艺参数，节省成本。
测量对象
- 薄膜材料
仪器特点
- 快速实时光谱测量，监控靶室内膜层变化；
- 具有特殊设计的参考光路，长时间运行无漂移；
- 可以选择测量基材、靶室内过程及成品测量；
- 自主开发软件系统，自行设定变化趋势报警区间。
仪器功能
- 光谱透射比、反射比 、颜色参数 Yxy、L*、a*、b*、色差ΔE
技术参数
| 项目 | 参数 |
| 测量几何条件 | 8°/8° |
| 光谱范围 | 380～1000nm |
| 波长间隔 | 1nm |
| 探头间隙 | 3～23mm |
| 波长准确性 | 优于0.3nm |
| 波长重复性 | 优于0.1nm |
| 测量速度 | 每点每次测量速度≤500ms，每点测量间隔时间不少于1秒 |
| 短时间稳定性 | 同一玻璃同一点经30次连续测量，L、a、b*的波动＜0.1RMS |
| 长时间漂移 | 重启仪器或置换光源后，测量同一片玻璃同一点，L、a、b*测值波动＜0.1RMS |
