EN

四探针面电阻测试仪SD-810

 

本仪器德国NAGY公司进口,采用四探针接触式原理,用于测量导电膜层的面电阻,探针直径 大,针头光滑,能伸缩,不易划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择,以O h m/ s q或 Siemens/sq显示数据,校准数据和测量结果自动存储。

测量对象

      • Low-E镀膜玻璃(尤其表面不导电的Low-E玻璃)

      • TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃

      • 透明导电薄膜材料

      • 人工合成金属片及导电纸

      • 其他导电和半导体材料

    仪器功能

        • 方块电阻(Ohm/sq或Siemens/sq)

      仪器特点

          • 高精度接触测量

          • 大面积平板镀膜测量

        技术参数