本仪器是一款采用四探针接触式测量原理的面电阻测量仪器，用于测量导电膜层镀膜玻璃膜层，如钼、TCO、AZO、ITO等的表面电阻性能。根据需要，可安装多个面电阻探头，用于快速测量镀膜产品整版面的面电阻分布。
测量对象
- Low-E镀膜玻璃
- TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃
- 透明导电薄膜材料
- 人工合成金属片及导电纸
- 其他导电和半导体材料
仪器特点
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- 高精度接触测量；
- 专用于大面积平板镀膜测量
- 探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易划伤膜层；
- 多个量程范围可自动选择；
- 校准数据和测量结果自动存储；
- 串行数据接口；
- 以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据。
技术参数
技术指标
接口及电源
技术指标
1.测量对象：Low-E镀膜玻璃、TCO光伏玻璃、 ITO玻璃、 触摸屏玻璃、 LED发光玻璃、透明导电薄膜材料、人工合成金属片及导电纸、其他导电和半导体材料；
2.测量方式：四探针；
3.可测玻璃厚度：2~6mm；
4.探针间距：2±0.01mm；
5.面电阻范围：0.1~100Ω（可定制）；
6.重复性：0.2% ；
7.单点测量速度：7s；
8.探头升降行程：最大30mm（自动）；
9.探针压力：200~350g（可调）；
10.探头数量：探头数量≥1；
11.测量方式：PC控制，按设置自动进行测量
接口及电源
1.仪器接口：RS232/网络；
2.通讯接口：RS485；
3.供电电源：220VAC±10% 50/60Hz；
4.额定功率：40W
