磁控溅射镀膜的真空室内用于检测银层镀制的专用定制设备。
注:此产品必须配备Filmonitor6000分析基础部分。
银层是低辐射镀膜玻璃最关键的功能膜层,其膜层的品质状况决定了银膜层的红外反射性能(辐射率),也就是最终产品的隔热性能。银膜层的镀制不仅影响产品的节能品质,同时贵金属银靶材的用量也关系到最终产品的制造成本。面电阻测量设备安装于真空室内,用于磁控溅射镀膜中银层的镀膜监控,一般安装于银层镀膜后的位置。如三银低辐射镀膜可安装三个面电阻探头,镀膜后可以依据面电阻值得变化情况,间接对于银层的镀膜密度、膜层厚度以及均匀性进行监控。通过面电阻和光学检测的结合应用,可以精确控制银膜层的镀制,从而保证最终低辐射镀膜玻璃的品质,节约生产成本。
测量对象
- Low-E镀膜玻璃(尤其表面不导电的Low-E玻璃)
- TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃
- 透明导电薄膜材料
- 人工合成金属片及导电纸
- 其他导电和半导体材料
仪器功能
- 网格式快速自动测量玻璃、薄膜等镀膜产品的面电阻,并计算出面电阻平均值、各通道平均值、各通道纵向差值及横向差值
- 实时显示每一片被测产品面电阻各通道分布、各通道纵向差值及横向差值,并绘出相应测量结果的历史趋势曲线
- 丰富的品质分析和报警阈值设定功能,可根据总平均值、横向差值、纵向差值互相结合的方法进行品质评判
- 自动存储并管理测量结果,可以进行数据库查询操作,数据可以导出给EXCEL等软件进行进一步处理
- 根据生产线实际的生产情况,自动舍弃无被测物的测量通道数据
- 软件可设置多个不同等级的用户,分别对应不同的操作权限
- 打印测量数据,打印历史趋势数据及曲线
技术参数
技术指标
技术指标
1.测量对象:Low-E镀膜玻璃(尤其表面不导电的Low-E玻璃)TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃透明导电薄膜材料、人工合成金属片及导电纸其他导电和半导体材料;
2.测量样式:固定点测量;
3.面电阻范围:0.5-20Ω/□;
4.探头尺寸:105x75x57mm;
5.玻璃厚度范围:2~19mm / 2~27mm;
6.探头面积:ApproxΦ120mm;
7.探头间隔:30mm/40mm